介电质评估系統

  • 簡述
介电质评估套件(DAK)提供4MHz至67GHz的非常宽频率范围的高精度介电质评估套件(DAK)提供4MHz至67GHz的非常宽频率范围的高精度电介质参数测量(介电常数、磁导率、电导率、损耗正切),用于电子、化工、食品和医疗工业。该套件包括 1)DAK单探针解决方案,2)DAKS系统,3)DAK-TL-P,第一个能够测量薄层材料和小体积液体的系统,4)DAK-TL-P² 不仅可以测量复介电常数,还可以测量薄层材料的磁导率。
  • 应用
  • DAK-12, DAK-3.5, DAK-1.2E: 单探头量测
  • DAKS: 操作简易: 直接插入即可量测
  • DAK-TL-P: 薄材料的介电质测量
  • DAK-TL-P²: 薄材料的介电质, 磁导率测量
  • 特点
  • 可进行宽带量测,最高可至67GHz
  • 可量测三态(固态、半固态、液态)
  • 可输出多种档案类型:excel, text, 或导出到DASY6和SEMCAD X
  • 与市面上网络分析仪兼容高
  • DAK界面提供各种图形和数值分析(ε‘,ε“,σ,tanδ、史密斯圆图)
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