● DAK-R : 10、17、26、35、45GHz
● 符合IPC TM-650 2.5.5.13测试标准

在5G/6G应用市场中，低损耗材料的需求日益增加，低损耗材料可以减少传输损耗，提高通信效率和质量，特别是在智能手机、高频应用、先进封装等技术中发挥重要作用。
DAK-R采用分离式谐振腔原理，适用于5G薄膜等非破坏性低介电损耗材料的测量。