DAK-R - 低損耗材料介電測量系統

● DAK-R : 10、17、26、35、45GHz
● 符合IPC TM-650 2.5.5.13測試標準

DAK-R 是最新推出的介電測量解決方案,非破壞性介電測量薄、低損耗材料(0.05 – 3 毫米)。諧振器法是測定低損耗材料介電特性最精確的技術。DAK-R 基於一種先進的分柱諧振器(SCR)實現。與僅在基頻下工作的傳統 SCR 不同,DAK-R 具有創新的腔體設計和最先進的求解器,這抑制了不必要的共振,擴展了介電常數測量範圍,成為市場上唯一能夠在單一儀器中進行 10、17、26、35 和 45 GHz 精確寬頻測量的諧振器。符合 IPC TM-650 2.5.5.13 測試方法,DAK-R 由分為兩等分的腔體組成。樣品被放置在這些部分之間的間隙中,激發 TE01n 共振,通過分析諧振頻率和質量因子 Q,確定了樣品的相對介電常數和損耗正切。
  • 高速數字與微波電路用基底材料、濾波器和介電天線用低損耗電介質、化學製品等
  • 薄膜與新材料、半導體材料、電子材料
  • 陶瓷材料、納米材料、光電材料等
  • 新型腔體設計,抑制不必要的共振,對被測材料無破壞性
  • 創新的垂直腔體設計,便於在測量過程中處理樣品
  • Q值>25000,εr<100,tan δ<0.01
  • 測量精度:εr:±1%、tan δ:0.0001
  • 一個腔體覆蓋5個頻點(10、17、26、35、45GHz)

施比雅克貿易(上海)有限公司
北京:北京市海淀區魏公村街1號雙興八座3層3057
上海:中國(上海)自由貿易試驗區碧波路690號6幢101-18室
深圳:深圳市寶安區石岩街道創維創新谷2#樓A712室
電話:021-61683060
郵箱:ins@auden.com.tw