DAK-R

DAK-R - 低損耗材料介電測量系統
- 簡述
● DAK-R : 10、17、26、35、45GHz
● 符合IPC TM-650 2.5.5.13測試標準
在5G/6G應用市場中,對低損耗材料的需求日益增多,低損耗材料可以減少傳輸損耗,提高通信效率和質量,特別是在智能手機、高頻應用、先進封裝等技術中發揮重要作用。
DAK-R採用分離式諧振腔原理,適用於5G薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。
● 符合IPC TM-650 2.5.5.13測試標準
在5G/6G應用市場中,對低損耗材料的需求日益增多,低損耗材料可以減少傳輸損耗,提高通信效率和質量,特別是在智能手機、高頻應用、先進封裝等技術中發揮重要作用。
DAK-R採用分離式諧振腔原理,適用於5G薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。
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