DAK-R - 低损耗材料介电测量系统

● DAK-R : 10、17、26、35、45GHz
● 符合IPC TM-650 2.5.5.13测试标准

DAK-R 是最新推出的介电测量解决方案,非破坏性介电测量薄、低损耗材料(0.05 – 3毫米)。谐振器法是测定低损耗材料介电特性最精确的技术。DAK-R是基于一种先进的分柱谐振器(SCR)的实现。与仅在基频下工作的传统SCR不同,DAK-R具有创新的腔体设计和最先进的求解器,这抑制了不必要的共振,扩展了介电常数测量范围,成为市场上唯一能够在单个仪器中进行10,17,26,35和45ghz精确宽带测量的谐振器。符合IPC TM-650 2.5.5.13测试方法,DAK-R由分为两等分的腔体组成。样品被放置在这些部分之间的间隙中,激发TE01n共振,通过分析谐振频率和质量因子Q,确定了样品的相对介电常数和损耗正切。
  • 高速数字与微波电路用基底材料、滤波器和介电天线用低损耗电介质、化学制品等
  • 薄膜与新材料、半导体材料、电子材料
  • 陶瓷材料、纳米材料、光电材料等
  • 新型腔体设计,抑制不必要的共振,对被测材料无破坏性
  • 创新的垂直腔体设计,便于在测量过程中处理样品
  • Q值>25000,εr<100,tan δ<01
  • 测量精度:εr:±1%、tan δ:0001
  • 一个腔体覆盖5个频点(10、17、26、35、45GHz)

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